JY-F05显微反射率检测仪

可准确测量薄、微小、弧面样品的反射率

JY-F05显微反射率检测仪可准确测量目前分光光度计无法测量的微小、薄、弧面样品的光谱反射率，不会与样品背面的反射光产生干涉。是适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统；实现非破坏性测量方案。

特性一消掉背面反射光

采用特殊光学系统，消去背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定弧度镜片表面的反射率。

特性二可测定微小区域的反射率

用物镜对焦于样本表面的微小光斑（ø60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。

特性三测定时间短

由于使用了平面光栅和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、高重复性的测定。

特性四支持XY色度图、Lab*测定

可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色；比较色差。更真实反映材料主观感受色彩。

特性五微观反射率测试

可以在微观环境下测试镜片或透明材料反射率，精确分析镜片各部分均匀性。